MET
La Microscopie Électronique en Transmission (MET) permet une analyse morphologique, structurale et chimique d’échantillons solides à l’échelle atomique. Cette technique repose sur l’interaction des électrons avec la matière et la détection des électrons ayant traversé l’échantillon. Les échantillons étudiés doivent donc être préalablement amincis afin d’être transparents aux électrons (voir la préparation d’échantillons).
La plateforme est équipée de trois microscopes électroniques en transmission :
- Un microscope 200 kV FEG analytique : JEOL 2200 FS
- Un microscope 120 kV LaB6 conventionel : JEOL 1400 Flash
- Un microscope 120 kV Tungsten : JEOL 1200 EX