Microscopie électronique et analytique

MET FEG JEOL 2200 FS – 200 KV

Microscope Électronique en Transmission JEOL 2200FS – 200 kV

Le 2200 FS est un microscope de pointe mis en service en 2013 et orienté analyse élémentaire, à l’échelle nanométrique. Il est équipé de lentilles objectif haute résolution (HR) permettant à la fois de réaliser des images haute résolution (HRTEM) et de la tomographie 3D (tilt +/- 45°). Il possède un filtre en colonne, de type omega, pour l’imagerie filtrée en énergie (EFTEM) et la spectroscopie de perte d’énergie (EELS).
Il est également équipé d’un module STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) permettant une large gamme d’analyses en utilisant les différents détecteurs.

Possibilités d’analyses :

  • TEM conventionelle et HRTEM
  • Tomographie 3D
  • EFTEM
  • STEM

Ce MET fait partie des appareils de le PAC Chimie Balard.

Financements : ICGM, Région Languedoc-Roussillon, Fonds européen de développement régional (FEDER), MEA.

Caractéristiques techniques :

Source : FEG 200 kV
Résolution point-point : 0.23 nm
Résolution en énergie : 0.7 eV
Résolution en Mode STEM : 0.1 nm (sonde ~1nm)

2200 FS

JEOL 2200 FS

Porte-objets :

  • double-inclinaison JEOL
  • double-inclinaison béryllium spécial analyse JEOL
  • Tomographie JEOL
  • Cryo GATAN

Détecteurs :

  • détecteurs BF et HAADF (sonde ~1nm)
  • EDX – SDD Oxford Instrument XMaxN 100 TLE (100 mm2 – sans fenêtre)   

Caméra : CCD GATAN USC 4092×4092 px²

Logiciels :

  • TEMography™ : Tomographie
  • Aztec : cartographies STEM-EDX