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Ultra microtome LEICA UC 7 :

L’ultramicrotome Leica EM UC7 permet de préparer des sections semi-fines et ultrafines (70nm) des échantillons pour le MET et un surfaçage pour les observations en MEB. Il est équipé de la chambre cryo Leica EM FC7 permettant de réaliser des sections cryo ( -15° à -185 °C) des échantillons.

Ultra microtome LEICA UC 7

[/fusion_tab][fusion_tab title= »Amincisseur ionique » icon= » »]
Amincisseur ionique GATAN PIPS :

L’amincisseur ionique permet la réalisation d’échantillons minces pour le TEM à l’aide de deux faisceaux d’ions focalisés qui vont pulvériser localement l’échantillon. Cette technique, utilisable sur la plupart des matériaux, est très adaptée à la préparation de sections transverses, c’est-à-dire à la réalisation d’échantillons dans lesquels l’interface ou les interfaces à étudier sont orientés parallèlement au faisceau d’électrons du microscope. Cependant un amincissement préalable est souvent nécessaire pour que l’amincissement ionique de l’échantillon ne soit pas trop long.
L’épaisseur souhaitable avant amincissement ionique est d’environ 10 µm.

Amincisseur ionique GATAN PIPS

[/fusion_tab][fusion_tab title= »Métalliseur » icon= » »]
Métalliseur BALTEC SCD 050 :

Le SCD 050 est un système de déposition par pulvérisation cathodique de couche mince sur un substrat. L’épaisseur est contrôlée par l’utilisateur en utilisant la puissance, la pression, la distance de travail, et par le temps de déposition. Un processus complet prend environ une demi-heure à plus d’une heure en fonction du métal utilisé.

Métalliseur BALTEC SCD 050

[/fusion_tab][fusion_tab title= »Evaporateur » icon= » »]
Evaporateur HITACHI HUS 5B :

L’évaporateur Hitachi HUS 5B est un évaporateur carbone permettant de déposer des couches minces de carbone sur les échantillons pour l’analyse en MEB ou TEM.

Evaporateur HITACHI HUS 5B

[/fusion_tab][fusion_tab title= »Point critique » icon= » »]
Point critique BALTEC CPD 030 :

Le CPD 030 est un système de point critique CO2 qui permet la dessiccation par contournement du point critique d’échantillons hydratés en vue de leur observation au microscope à balayage (MEB)

Point critique BALTEC CPD 030

[/fusion_tab][fusion_tab title= »Automate d’inclusion » icon= » »]
Automate d’inclusion à froid LEICA AFS2 :

Le Leica EM AFS2 permet de faire de la cryosubstitution et de la baisse progressive de la température (PLT) pour l’inclusion à basse température et la polymérisation des résines. Il est équipé du Leica EM FSP (robot de cryosubstitution), qui est un système automatique de manipulation, dilution et distribution des réactifs.

Automate d’inclusion à froid LEICA AFS2

[/fusion_tab][fusion_tab title= »Plongeur pour la cryofixation » icon= » »]
Plongeur pour la cryofixation dans l’éthane liquide LEICA EMCPC :

Le Leica EM CPC est un système qui permet la cryofixation d’un échantillon de fluide vitrifié ou d’échantillons extrêmement minces par plongeon à froid dans de l’éthane liquide.

Plongeur pour la cryofixation dans l’éthane liquide LEICA EMCPC

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